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AlignMeter激光準(zhǔn)直儀 通用性：可測量光束位置（直徑高達(dá)9mm）、角度（高達(dá)180mRad）和功率（無濾波片10µW-5mW） 精確度：低至0.1µm分辨率@50Hz數(shù)字濾波器，位置測量：±15µm和低至0.005µm分辨率，角度測量：±0.125mRad

線光源測試設(shè)備 線激光測試系統(tǒng)(LLPS)是一個用于分析長度高達(dá)200mm和寬度為55μm的線激光器解決方案。通過使用50/200mm線性位移臺，搭載DataRay的旗艦WinCamD-LCM4光束分析儀，這款功能完備、開放式軟件的設(shè)備將顯示出激光線強(qiáng)度分布的完整圖像，以及垂直質(zhì)心圖、線寬圖和其他一些有用的測量結(jié)果。

大尺寸光斑分析儀-200mm 大尺寸光斑分析儀，檢測200mm成像區(qū)域，成套系統(tǒng)包含：WinCamD-LCM CMOS光斑分析儀，成像透鏡，透射式屏幕組件。

dataray提供靈活的M2測試配套儀器，可按照客戶的激光參數(shù)選擇50mm或則200mm行程的掃描移位臺，可搭載他們?nèi)盗械墓獍叻治霎a(chǎn)品/Beam R2組合而成M2分析儀。位移臺搭載BeamR2掃描刀口分析儀。

BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀 DataRay的BeamMap2代表了一種*不同的實(shí)時(shí)光束輪廓分析方法。它允許在光束行進(jìn)的多個位置進(jìn)行測量，從而擴(kuò)展了Beam'R2的測量功能。這種實(shí)時(shí)狹縫掃描系統(tǒng)在旋轉(zhuǎn)的圓盤上的多個z平面中使用XY狹縫對，以同時(shí)在四個不同的z位置測量四個光束輪廓。 BeamMap2*的zhuan利設(shè)計(jì)對于實(shí)時(shí)測量焦點(diǎn)位置，M2，光束發(fā)散和指向zui為便利。

Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀 DataRay的Beam'R2非常適合許多激光光束輪廓分析應(yīng)用。利用標(biāo)準(zhǔn)的2.5μm狹縫和較大的刀口狹縫，Beam'R2能夠測量直徑小至2μm的光束。利用Si和InGaAs或擴(kuò)展InGaAs的選件，Beam'R2可以對190 nm至2500 nm的光束進(jìn)行輪廓分析。掃描狹縫光斑分析儀提供比基于相機(jī)的系統(tǒng)更高的分辨率

TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析儀 25mm TaperCamD-LCM具有25 x 25 mm的大有效面積，4.2 M像素，12.5 x 12.5μm（有效）像素，光學(xué)和電子觸發(fā)全局快門以及2500：1的SNR，可提供最da的有源傳感器面積。

BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析儀 高分辨率和高度緊湊的BladeCam™光束輪廓儀的像素尺寸為3.2μm，厚度僅為0.65英寸（16.5毫米），可集成到光學(xué)系統(tǒng)和OEM應(yīng)用中。軟件功能齊全，可高度定制，且不收取許可費(fèi)用，無限制安裝和免費(fèi)軟件更新。非常適合以下應(yīng)用：CW激光輪廓分析；激光系統(tǒng)的現(xiàn)場服務(wù)；光學(xué)組件儀器對準(zhǔn)；光束漂移和記錄；研發(fā); OEM集成；質(zhì)量控制；和